Yarı İletken Malzemeler Üzerine Temel Araştırma ve Geliştirme

Hassasiyet: elektriksel kusur karakterizasyonu için en yüksek hassasiyet

Sıcaklık aralığı: 500 K’ye kadar sıvı nitrojen (77 K) Opsiyonel: sıvı helyum (4 K) veya daha yüksek sıcaklıklar

Azalma sabitleri aralığı: 20 ns ila birkaç ms

Kirlilik belirleme: temel tuzak seviyesi özelliklerinin ölçümü: aktivasyon enerjisi ve tuzakların yakalama kesiti, sıcaklığa ve enjeksiyona bağlı ömür ölçümleri

Tekrarlanabilirlik: > %99, Ölçüm süresi: < 60 dakika. Sıvı nitrojen tüketimi: 2 l/çalışma

Esneklik: Farklı türdeki malzemeler için 365 nm’den 1480 nm’ye kadar farklı dalga boyları arasından seçim yapın

Erişilebilirlik: IP tabanlı sistem, dünyanın her yerinden uzaktan çalıştırma ve teknik destek sağlar

Ticari olarak temin edilebilen yeni MD-PICTS ekipmanı ile, 20…500 K aralığında geçici fotoiletkenliğin sıcaklığa bağımlılığını ölçmek mümkündür. Geçmişte Si, GaAs, InP, SiC ve daha birçok yarı iletken, bu yöntem ile başarıyla incelenmiştir.