TR EN

SDCOM

Omega tarama yöntemini kullanarak ultra hızlı kristal oryantasyon ölçümü için tasarlanmıştır

SDCOM

Omega tarama yöntemini kullanarak ultra hızlı kristal oryantasyon ölçümü için tasarlanmıştır

SDCOM

Kategori: X-RAY Diffraction

Omega tarama yöntemini kullanarak ultra hızlı kristal oryantasyon ölçümü için tasarlanmıştır

Özellikle küçük kristaller için tasarlanmış Kristal Oryantasyon Ölçümü (SDCOM) için Smart X-ray Difraktometre

Ölçülebilir Malzeme Örnekleri
•    Cubic / arbitrary unknown orientation: Si, Ge, GaAs, GaP, InP
•    Cubic / special orientation: Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3
•    Tetragonal: MgF2, TiO2, SrLaAlO4
•    Hexagonal / Trigonal: SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2 (quartz), Al2O3 (sapphire), GaPO4, La3Ga5SiO14
•    Orthorhombic: Mg2SiO4, NdGaO3

    1 mm’ye kadar çok küçük kristalleri ölçebilme

Omega tarama yöntemini kullanarak ultra hızlı kristal oryantasyon ölçümü için tasarlanmıştır

Diğer Ürünler